Sonderuntersuchungen

Für Sonderuntersuchungen - zum Beispiel bei der Bearbeitung von Schadensfällen - stehen uns folgende spektrometrische Untersuchungsmethoden zur Verfügung:

• Analyse kleinster Probenbereiche in unserem Rasterelektronenmikroskop (REM) mit energiedispersivem Spektrometer (EDX)
• Präzisionsmessungen der chemischen Zusammensetzung mit optischen Emissionspektrometern (OES)
• ambulante Messungen am Bauteil mit optischem Emmissionsspektrometer (OES) oder Röntgenfluoreszenzspektrometer (RFA)

Insbesondere das mit einem EDX-Analysator ausgerüstete Rasterelektronenmikroskop gestattet:

• chemische Analysen kleinster Ausscheidungen von wenigen Mikrometern Größe
• chemische Analysen von Oberflächenbelägen - z.B. auf der Bauteiloberfläche oder auch auf Korngrenzen
• Analysen der Flächenverteilung verschiedener chemischer Elemente (Mapping)

 
Wenn Sie weitere Fragen zu unseren Dienstleistungen "rund um Sonderuntersuchungen" haben, dann nutzen Sie bitte die angegebenen Kontaktdaten und sprechen uns an. Wir beraten Sie gern!